Juhime tähelepanu, et artikkel on rohkem kui viis aastat vana ning kuulub meie arhiivi. Ajakirjandusväljaanne ei uuenda arhiivide sisu, seega võib olla vajalik tutvuda ka uuemate allikatega.

Eesti professor: Samsungi äparduse taga on tootjate võidujooks

Professor Enn Lust FOTO: Sille Annuk / Tartu Postimees

Tuntud ja tunnustatud Eesti keemiateadlane professor Enn Lust peab Samsungi tipptelefoni Galaxy Note 7 praagiks tunnistamise põhjuseks tootjate võidujooksust tingitud kompleksset möödapanekut.

Tellijale Tellijale

«Selle telefoni aku ise ilma väga tihedalt kokku pakitud telefonita ei tarvitsegi üle kuumeneda ja plahvatada. Probleem on aga selles, et patarei laadimise ja töötamise ajal tekib palju soojust ning kuna seda ümbritsevad väga tihedalt kergesti süttivad materjalid, on kuumenemise esimene tagajärg plahvatus ja seejärel platsmassi ja muu põleng,» selgitas Eesti teadlane Galaxy Note 7 süttimise põhjusi.

«Telefoni ühendamine muu telefoniga on osutunud ebaõnnestunuks. Nagu väga paljude kõrge võimsusega elektrokeemiliste vooluallikate pakkimise puhul väga piiratud ruumi juhtuda võib,» tõdes professor.

14.10.2016 17.10.2016
Loo tellimiseks pead olema sisse logitud Postimees kontole.
Logi sisse
Sul ei ole kontot?
Loo Postimees konto