N, 6.10.2022
Juhime tähelepanu, et artikkel on rohkem kui viis aastat vana ning kuulub meie arhiivi. Ajakirjandusväljaanne ei uuenda arhiivide sisu, seega võib olla vajalik tutvuda ka uuemate allikatega.

Eesti professor: Samsungi äparduse taga on tootjate võidujooks

Aivar Pau
Eesti professor: Samsungi äparduse taga on tootjate võidujooks
Facebook Messenger LinkedIn Twitter
Comments
Professor Enn Lust
Professor Enn Lust Foto: Sille Annuk / Tartu Postimees

Tuntud ja tunnustatud Eesti keemiateadlane professor Enn Lust peab Samsungi tipptelefoni Galaxy Note 7 praagiks tunnistamise põhjuseks tootjate võidujooksust tingitud kompleksset möödapanekut.

«Selle telefoni aku ise ilma väga tihedalt kokku pakitud telefonita ei tarvitsegi üle kuumeneda ja plahvatada. Probleem on aga selles, et patarei laadimise ja töötamise ajal tekib palju soojust ning kuna seda ümbritsevad väga tihedalt kergesti süttivad materjalid, on kuumenemise esimene tagajärg plahvatus ja seejärel platsmassi ja muu põleng,» selgitas Eesti teadlane Galaxy Note 7 süttimise põhjusi.

«Telefoni ühendamine muu telefoniga on osutunud ebaõnnestunuks. Nagu väga paljude kõrge võimsusega elektrokeemiliste vooluallikate pakkimise puhul väga piiratud ruumi juhtuda võib,» tõdes professor.

Märksõnad
Tagasi üles